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pro vyhledávání: '"Soulan, Sebastien"'
Akademický článek
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Publikováno v:
Nanomaterials (2079-4991); Nov2022, Vol. 12 Issue 22, p3951, 15p
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Alcaire, Thomas, Le Cunff, Delphine, Tortai, Jean-Hervé, Soulan, Sebastien, Gredy, Victor, Templier, Maxime, Kessar, Mehdi, Bianchini, Raffaele, Berthoud, Audrey
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; February 2021, Vol. 11611 Issue: 1 p116112G-116112G-9, 1045018p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65170N-65170N-8, 8p
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Alcaire, Thomas, Le Cunff, Delphine, Tortai, Jean-Hervé, Soulan, Sebastien, Gredy, Victor, Templier, Maxime, Kessar, Mehdi, Bianchini, Raffaele, Berthoud, Audrey
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 11/4/2020, Vol. 11611, p116112G-116112G-9, 1p
Autor:
Martin, Luc, Manakli, Serdar, Bayle, Sebastien, Belledent, Jérôme, Soulan, Sebastien, Wiedemann, Pablo, Farah, Abdi, Schiavone, Patrick
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2012, Vol. 8323 Issue: 1 p83231W-83231W-10, 8239880p
Autor:
Soulan, Sébastien
La métrologie in situ et le contrôle de procédés en temps réel sont pour l'industrie de la microélectronique des enjeux d'une importance cruciale. Une technique de caractérisation optique basée sur une analyse de la lumière diffractée par u
Externí odkaz:
http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00340093
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/41/91/64/PDF/these.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/41/91/64/PDF/these.pdf
