Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"Sosnova, M.V."'
Long-term transformations of the optical reflectance of GaAs epitaxial structure under weak magnetic field treatment (B = 60 mT, f = 10 Hz, τ = 1.2 ms, t = 5 min) have been obtained. Optical measurements were performed within the wavelength range 80
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::dc1cf149d15bd61115f4546388e044bc
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118370
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118370
The optical properties of multilayer structures consisting of dielectric, conductivity-oxide and nanoscaled metal layers, deposited on the planar substrates (witness samples) and surface relief ones (diffraction gratings) with micro- and nanoscale si
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::8ed0d8fff6f805fb23f0cb1534323844
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117917
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117917
Publikováno v:
2008 26th International Conference on Microelectronics; 2008, p83-86, 4p
ID-array of metallic nanowires as sensing element for optical sensor: modeling and characterization.
Publikováno v:
2008 International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems; 2008, p95-98, 4p
Publikováno v:
2006 25th International Conference on Microelectronics; 2006, p298-301, 4p
Publikováno v:
Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems, 2004. ASDAM 2004 (9780780383357); 2004, p187-190, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2010 27th International Conference on Microelectronics Proceedings (MIEL); 2010, p175-176, 2p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.