Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Soldner, W."'
Autor:
Soldner, W., Streibl, M., Hodel, U., Tiebout, M., Gossner, H., Schmitt-Landsiedel, D., Chun, J.H., Ito, C., Dutton, R.W.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(7):1008-1015
Autor:
Nebrich, L. *, Neumeier, K., Stadler, A., Weber, J., Bensch, F., Kreuzer, S., Vogg, G., Herrmann, K., Klumpp, A., Wieland, R., Bonfert, D., Soldner, W., Ramm, P.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):429-433
Publikováno v:
2010 IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT); 2010, p29-34, 6p
Autor:
Soldner, W., Streibl, M., Hodel, U., Tiebout, M., Gossner, H., Schmitt-Landsiedel, D., Chun, J.H., Ito, C., Dutton, R.W.
Publikováno v:
2005 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium; 2005, p1-10, 10p
Publikováno v:
2003 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium; 2003, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2007 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers; 2007, p550-551, 2p