Zobrazeno 1 - 10
of 40
pro vyhledávání: '"Sogard, M."'
Autor:
Pfeiffer, H.C. ∗, Dhaliwal, R.S., Golladay, S.D., Doran, S.K., Gordon, M.S., Kendall, R.A., Lieberman, J.E., Pinckney, D.J., Quickle, R.J., Robinson, C.F., Rockrohr, J.D., Stickel, W., Tressler, E.V., Tanimoto, A., Yamaguchi, T., Okamoto, K., Suzuki, K., Miura, T., Okino, T., Kawata, S., Morita, K., Suzuki, S.C., Shimizu, H., Kojima, S., Varnell, G., Novak, W.T., Sogard, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 57:163-172
Autor:
Sogard, M. R.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Aug1980, Vol. 51 Issue 8, p4412-4416, 5p
Autor:
Sogard, M. R.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Aug1980, Vol. 51 Issue 8, p4417-4425, 9p
Autor:
Sogard, M. R., Feng, I.-J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 3/1/1988, Vol. 63 Issue 5, p1313, 8p, 6 Graphs
Autor:
Ayres, D S, Diebold, R, MacLay, G J, Cutts, D, Lanou, R E, Levinson, L J, Massimo, J T, Litt, John, Meunier, R, Sogard, M R, Gittelman, B, Loh, E C, Brenner, A E, Elias, J E, Mikenberg, G, Guerriero, L, La Vopa, P, Maggi, G, De Marzo, C, Posa, F, Selvaggi, G, Spinelli, P, Waldner, F, Barton, D S, Butler, J, Fines, J, Friedman, Jerome Isaac, Kendall, H W, Nelson, B, Rosenson, L, Verdier, R, Gottschalk, B, Anderson, R L, Gustavson, D B, Rich, K, Ritson, D M, Weitsch, G A
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od________65::e07a1dd69dc450689640e1f0f2191235
http://cds.cern.ch/record/392554
http://cds.cern.ch/record/392554
Publikováno v:
Solid State Technology. :118
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; Nov/Dec2007, Vol. 25 Issue 6, p2155-2161, 7p, 3 Diagrams, 5 Graphs
Autor:
Bodek, A., Breidenbach, M., Dubin, D. L., Elias, J. E., Friedman, J. I., Kendall, H. W., Poucher, J. S., Riordan, E. M., Sogard, M. R., Coward, D. H.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; May1973, Vol. 14 Issue 1, p98-101, 4p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2003, Vol. 21 Issue 6, p2657-2662, 6p