Výsledky vyhledávání - "Soave, Robert"

Periodical

Process-Induced ReRAM Performance Improvement of Atomic Layer Deposited HfO2for Analog In-Memory Computing Applications

Autor: Consiglio, Steven, Higuchi, Hisashi, Ando, Takashi, Jamison, Paul, Seo, Soon-Cheon, Kong, Dexin, Kim, Youngseok, Tapily, Kandabara, Clark, Robert D, Hopstaken, Marinus, Cartier, Eduard, Tsunomura, Takaaki, Wajda, Cory S, Soave, Robert, Narayanan, Vijay, Leusink, Gert J

Publikováno v: ECS Transactions; May 2021, Vol. 102 Issue: 2 p19-28, 10p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Microfabrication of channel electron multipliers.

Autor: Tasker, G. William, Bentley, Scott T., Shank, Steven M., Soave, Robert J., Then, Alan M.

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1995, Issue 1, p58-70, 13p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

A novel technique for characterizing the surface coverage of thin-film chemical vapor deposition in ultra-high-aspect-ratio microstructures.

Autor: Soave, Robert J., Tasker, G. William, Then, Alan M., Mayer, James W., Shacham-Diamand, Yosi

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1995, Vol. 13 Issue 3, p1027-1031, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Free-standing gratings and lenses for atom optics.

Autor: Keith, David W., Soave, Robert J., Rooks, Michael J.

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1991, Vol. 9 Issue 6, p2846-2850, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Process-Induced ReRAM Performance Improvement of Atomic Layer Deposited HfO2 for Analog In-Memory Computing Applications.

Autor: Consiglio, Steven, Hisashi Higuchi, Takashi Ando, Jamison, Paul, Soon-Cheon Seo, Dexin Kong, Youngseok Kim, Tapily, Kandabara, Clark, Robert D., Hopstaken, Marinus, Cartier, Eduard, Takaaki Tsunomura, Wajda, Cory S., Soave, Robert, Narayanan, Vijay, Leusink, Gert J.

Publikováno v: ECS Meeting Abstracts; 2021, Vol. MA2021-01 Issue 1, p994-994, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Nanometer-Scale Oxide Particles in Gesi Films Grown by Wet Oxidation.

Autor: Lee, Tan-Chen, Soave, Robert J., Shacham-Diamand, Yosi Y., Silcox, John

Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 01/24/1993, Vol. 321, pN.PAG-1, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.