Zobrazeno 1 - 10
of 148
pro vyhledávání: '"SoC test"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Test vector compression is an emerging trend in the field of VLSI testing. According to these trends, increasing test data volume is one of the biggest challenges in the testing industry. In order to reduce on-chip storage as well as testing time ,th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1737b1bb911ba6ab4d9831ba5062f096
Autor:
Aghaee Ghaleshahi, Nima
Many cutting-edge computer and electronic products are powered by advanced Systems-on-Chip (SoC). Advanced SoCs encompass superb performance together with large number of functions. This is achieved by efficient integration of huge number of transist
Externí odkaz:
http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-120798
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In order to provide high performance with low power consumption, many multicore chips employ dynamic voltage scaling and voltage islands that operate at multiple power-supply voltage levels. Effective defect screening for such chips requires test app
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a408dddeb4fcf752e6e4056895952725
http://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/11085
http://olympias.lib.uoi.gr/jspui/handle/123456789/11085
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Banerjee, Shibaji
Publikováno v:
IndraStra Global.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=issn23813652::0e42cc594928226da947e14b20436415
http://www.idr.iitkgp.ac.in/xmlui/handle/123456789/5179
http://www.idr.iitkgp.ac.in/xmlui/handle/123456789/5179
