Zobrazeno 1 - 10
of 41 360
pro vyhledávání: '"So JLT"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2023 148
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. Dec2014, Vol. 117 Issue 4, p2281-2288. 8p. 1 Diagram, 1 Chart, 20 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Lightwave Technology; 12/15/2020, Vol. 38 Issue 24, p6891-7073, 183p
Autor:
Nakamura, Kentaro, Murayama, Hideaki, Mizuno, Yosuke, Song, Kwang Yong, Fan, Xinyu, Ito, Fumihiko, Tanaka, Yosuke, Yang, Jun, Lee, Kwanil
Publikováno v:
Journal of Lightwave Technology; September 2024, Vol. 42 Issue: 18 p6200-6203, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.