Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"Smolyarova T"'
Autor:
Tarasov, I. A.1 tia@iph.krasn.ru, Smolyarova, T. E.1,2, Yakovlev, I. A.1, Kosyrev, N. N.1,3, Komarov, V. A.1,2, Nemtsev, I. V.4, Varnakov, S. N.1, Patrin, S. G.1,2, Ovchinnikov, S. G.1,2
Publikováno v:
Semiconductors. Dec2018, Vol. 52 Issue 16, p2073-2077. 5p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Smolyarova, T. E.1,2 smol_nano@iph.krasn.ru, Lukyanenko, A. V.1,2, Tarasov, A. S.1,2, Sokolov, A. E.1,2
Publikováno v:
Semiconductors. May2018, Vol. 52 Issue 5, p675-677. 3p.
Autor:
Lukyanenko, A. V.1,2 lav@iph.krasn.ru, Smolyarova, T. E.1,2
Publikováno v:
Semiconductors. May2018, Vol. 52 Issue 5, p636-638. 3p.
Autor:
Lukyanenko, A. V., Tarasov, A. S., Yakovlev, I. A., Zelenov, F. V., Smolyarova, T. E., Bondarev, I. A., Ovchinnikov, S. G., Volkov, N. V.
The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund project no. 18-42-243022. This work is partially supported by the Ministry of Education a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______917::2c7a21a3b9c132bc3e2b9c6640ccca0a
https://hdl.handle.net/10995/80690
https://hdl.handle.net/10995/80690
The work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project № 18-32-00035\18.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______917::c7602f6b186fd0034f112bdd4fef223d
https://hdl.handle.net/10995/80729
https://hdl.handle.net/10995/80729
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Сканирующая зондовая микроскопия может быть использована не только для анализа и характеристики поверхности, но и для еѐ модификации з
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______917::de99dd662109b18a621270bfac9f54fd
https://hdl.handle.net/10995/104079
https://hdl.handle.net/10995/104079