Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Smolders AB"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Meyer E; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Kruglov D; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Krivic M; Keysight Technologies, Kortrijksesteenweg 1093B, 9051 Gent, Belgium., Tanveer M; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Argaez-Ramirez R; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Zhang Y; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Briseno Ojeda A; Karlsruhe Institute of Technology, 6131 Karlsruhe, Germany., Smirnova K; Karlsruhe Institute of Technology, 6131 Karlsruhe, Germany., Alekseev K; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Safari Mugisho M; Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, IAF, Tullastraße 72, 79108 Freiburg, Germany., Cimbili B; Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, IAF, Tullastraße 72, 79108 Freiburg, Germany., Farid N; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Dang Y; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Shahid M; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Ensan M; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Banar J; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Bao H; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Matters-Kammerer M; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Gustavsson U; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Demuynck F; Keysight Technologies, Kortrijksesteenweg 1093B, 9051 Gent, Belgium., Zwick T; Karlsruhe Institute of Technology, 6131 Karlsruhe, Germany., Acar M; NXP Semiconductors, High Tech Campus 60, 5656 AG Eindhoven, The Netherlands., Fager C; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., van der Heijden M; NXP Semiconductors, High Tech Campus 60, 5656 AG Eindhoven, The Netherlands., Ivashina M; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Caratelli D; The Antenna Company, High Tech Campus 29, 5656 AE Eindhoven, The Netherlands., Hasselblad M; Gapwaves, Nellickevagen 22, 412 63 Gothenburg, Sweden., Ulusoy C; Karlsruhe Institute of Technology, 6131 Karlsruhe, Germany., Smolders AB; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Eriksson K; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Johannson M; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Maaskant R; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Quay R; Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, IAF, Tullastraße 72, 79108 Freiburg, Germany., Floriot D; United Monolithic Semiconductors SAS, Bâtiment Charmille, Mosaic parc de Courtaboeuf, 10 avenue du Québec, 91140, Villebon-sur-Yvette, France., Bao M; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Bronckers LA; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Fridén J; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., van Beurden MC; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., de Hon BP; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Kolitsidas C; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Blanco D; Ericsson AB, Lindholmspiren 11, 417 56 Göteborg, Sweden., Willems FMJ; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands., Eriksson T; Chalmers University of Technology, Chalmersplatsen 4, 412 96 Göteborg, Sweden., Filippi A; NXP Semiconductors, High Tech Campus 60, 5656 AG Eindhoven, The Netherlands., Ponzini F; Ericsson Telecomunicazioni SpA, Via Anagnina 203, 00118 Rome, Italy., Johannsen U; Eindhoven University of Technology, Den Dolech 2, 5612 AZ Eindhoven, The Netherlands.
Publikováno v:
Open research Europe [Open Res Eur] 2022 Sep 02; Vol. 2, pp. 106. Date of Electronic Publication: 2022 Sep 02 (Print Publication: 2022).
Autor:
Bronckers LA; National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, CO 80305 USA., Remley KA; National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, CO 80305 USA., Jamroz B; National Institute of Standards and Technology (NIST), Boulder, CO 80305 USA., Roc'h A; Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, 5600MB Eindhoven, The Netherlands., Smolders AB; Department of Electrical Engineering, Eindhoven University of Technology, 5600MB Eindhoven, The Netherlands.
Publikováno v:
IEEE transactions on antennas and propagation [IEEE Trans Antennas Propag] 2020; Vol. 68 (6).
Autor:
Paulides MM; Department of Radiation Oncology, Erasmus University Medical Center, Cancer Institute, Rotterdam, Netherlands., Mestrom RM, Salim G, Adela BB, Numan WC, Drizdal T, Yeo DT, Smolders AB
Publikováno v:
Physics in medicine and biology [Phys Med Biol] 2017 Mar 07; Vol. 62 (5), pp. 1831-1847. Date of Electronic Publication: 2017 Jan 04.