Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Sleight, Jeffrey W."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mistry, Kaizad R., Sleight, Jeffrey W.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Nov99, Vol. 46 Issue 11, p2201. 9p. 5 Black and White Photographs, 1 Diagram, 2 Charts, 10 Graphs.
DC and Transient Characterization of a Compact Schottky Body Contact Technology for SOI Transistors.
Autor:
Sleight, Jeffrey W., Mistry, Kaizad R.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Jul99, Vol. 46 Issue 7, p1451. 6p. 2 Black and White Photographs, 4 Diagrams, 1 Chart, 9 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sleight, Jeffrey W., Rios, Rafael
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Apr98, Vol. 45 Issue 4, p821. 5p. 2 Diagrams, 8 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.