Zobrazeno 1 - 10
of 164
pro vyhledávání: '"Slang, Stanislav"'
Autor:
Durcikova, Lenka, Jancalek, Jiri, Prikryl, Jan, Mistrik, Jan, Frumarova, Bozena, Slang, Stanislav, Provotorov, Pavel, Kolobov, Alexander V., Krbal, Milos
Publikováno v:
In Ceramics International 15 September 2024 50(18) Part A:32233-32239
Autor:
Slang, Stanislav, Kurka, Michal, Jancalek, Jiri, Rodriguez-Pereira, Jhonatan, Chylii, Maksym, Houdek, Jakub, Jemelka, Jiri, Svoboda, Roman, Bartak, Jaroslav, Vlcek, Miroslav, Palka, Karel
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 November 2024 672
Autor:
Zhang, Bo, Gu, Bin, Petr, Janicek, Rodriguez-Pereira, Jhonatan, Slang, Stanislav, Wagner, Tomas
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 May 2024 655
Autor:
Jancalek, Jiri, Slang, Stanislav, Jemelka, Jiri, Simpson, Peyton D., Kurka, Michal, Houdek, Jakub, Palka, Karel, Vlcek, Miroslav
Publikováno v:
In Materials Chemistry and Physics 1 February 2024 313
Autor:
Reinders, Nataliia, Ďurovič, Martin, Honcová, Pavla, Dohnalová, Žaneta, Luxová, Jana, Slang, Stanislav, Rodriguez-Pereira, Jhonatan, Šulcová, Petra
Publikováno v:
In Microporous and Mesoporous Materials 15 January 2024 364
Autor:
Kurka, Michal, Palka, Karel, Jancalek, Jiri, Slang, Stanislav, Houdek, Jakub, Vlcek, Miroslav
Publikováno v:
In Journal of Non-Crystalline Solids 15 December 2023 622
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Antos, Roman, Mistrik, Jan, Palka, Karel, Slang, Stanislav, Navratil, Josef, Hamrle, Jaroslav, Veis, Martin, Vlcek, Miroslav
The quality of an As35S65 chalcogenide glass (ChG) grating fabricated by electron beam lithography (EBL) was characterized by optical scatterometry based on spectroscopic ellipsometry (SE) in the visible and near infrared spectral range and complemen
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1812.08687