Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Sixun Zou"'
Publikováno v:
Proceedings of 4th International Conference on Solid-State and IC Technology.
Ultra-thin-film Silicon-On-Insulator (TFSOI) structure with 100 nm-thick and 100 /spl mu/m-wide top Si islands were fabricated using the full isolation by oxidized porous silicon (FIPOS) technique. These structures were characterized using XTEM, ASP,
Publikováno v:
Proceedings of 4th International Conference on Solid-State & IC Technology; 1995, p266-268, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.