Zobrazeno 1 - 10
of 223
pro vyhledávání: '"Simpson, M. J."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 2019 Jul 01. 475(2227), 1-17.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/26760721
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bai, M., Knorr, K., Simpson, M. J., Trogisch, S., Taub, H., Ehrlich, S. N., Mo, H., Volkmann, U. G., Hansen, F. Y.
Noncontact Atomic Force Microscopy and synchrotron x-ray scattering measurements on dotriacontane (n-C32H66 or C32) films adsorbed on SiO2-coated Si(100) wafers reveal a narrow temperature range near the bulk C32 melting point Tb in which a monolayer
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0611497
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Stevenson-Hinde, J., Simpson, M. J. A.
Publikováno v:
Child Development, 1981 Dec 01. 52(4), 1246-1254.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/1129513