Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Silvent, Jérémie"'
Autor:
Ngambou, Midrel Wilfried Ngandeu, Perrin, Pauline, Balasa, Ionut, Tiranov, Alexey, Brinza, Ovidiu, Benedic, Fabien, Renaud, Justine, Reveillard, Morgan, Silvent, Jeremie, Goldner, Philippe, Achard, Jocelyn, Tallaire, Alexandre
Creating dense and shallow nitrogen vacancy (NV) ensembles with good spin properties, is a prerequisite for developing diamond-based quantum sensors exhibiting better performance. Ion implantation is a key enabling tool for precisely controlling spat
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2311.05328
Autor:
Chatain, Dominique, Singh, Saransh, Courtois, Blandine, Silvent, Jérémie, Verzeroli, Elodie, Rohrer, Gregory S., De Graef, Marc, Wynblatt, Paul
Publikováno v:
In Acta Materialia November 2020 200:287-296
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vernier, Suzanne, Franchet, Jean-Michel, Lesne, Maxime, Douillard, Thierry, Silvent, Jérémie, Langlois, Cyril, Bozzolo, Nathalie
Publikováno v:
In Materials Characterization August 2018 142:492-503
Autor:
Ngandeu Ngambou, Midrel Wilfried, Perrin, Pauline, Balasa, Ionut, Tiranov, Alexey, Brinza, Ovidiu, Bénédic, Fabien, Renaud, Justine, Reveillard, Morgan, Silvent, Jérémie, Goldner, Philippe, Achard, Jocelyn, Tallaire, Alexandre
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 3/25/2024, Vol. 124 Issue 13, p1-7, 7p
Publikováno v:
In Journal of Biological Chemistry August 2014 289(35):24168-24179
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Langlois, Cyril, Lafond, Clément, Douillard, Thierry, Cazottes, Sophie, Dubail, Sébastien, Silvent, Jérémie, Delobbe, Anne
Publikováno v:
2019 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (FCMN)
2019 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (FCMN), Apr 2019, Monterey, United States
2019 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (FCMN), Apr 2019, Monterey, United States
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::59c5bd74d3b9a4dcaca23930a419b3d2
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02093827
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02093827
Autor:
Lafond, Clément, Cazottes, Sophie, Douillard, Thierry, Delobbe, Anne, Silvent, Jérémie, Lesné, Maxime, Steyer, Philippe, Langlois, Cyril
Publikováno v:
Journées Annuelles SF2M 2017
Journées Annuelles SF2M 2017, Oct 2017, Lyon, France
Journées Annuelles SF2M 2017, Oct 2017, Lyon, France
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b16053106c02153e27d84fd81b065c8d
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02066127
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02066127
Publikováno v:
Journal of Molecular Evolution. Feb2013, Vol. 76 Issue 1/2, p59-70. 12p. 3 Diagrams, 1 Graph.