Zobrazeno 1 - 10
of 87
pro vyhledávání: '"Silveira, Jarbas"'
Autor:
Freitas, David, Mota, David, Lopes, Clailton, Simões, Daniel, Silveira, Jarbas, Mota, João, Marcon, César
Reducing the threshold voltage of electronic devices increases their sensitivity to electromagnetic radiation dramatically, increasing the probability of changing the memory cells' content. Designers mitigate failures using techniques such as Error C
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2306.16259
Autor:
Muniz, Adahil, Mazzoco, Lucas, Savaris, Wagner, Pissolatto, Eduarda, Beneditto, Tiago, Fritsch, Andrew, Silveira, Jarbas, Marcon, César
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability October 2024 161
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2022 139
Publikováno v:
In Integration May 2022 84:131-141
Autor:
Freitas, David C.C., Marcon, César, Silveira, Jarbas A.N., Naviner, Lirida A.B., Mota, João C.M.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2022 128
Autor:
Freitas, David, Mota, David, Goerl, Roger, Marcon, César, Vargas, Fabian, Silveira, Jarbas, Mota, João
Publikováno v:
In Integration September 2020 74:71-80
Publikováno v:
In Microelectronics Journal June 2020 100
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2020 106
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.