Zobrazeno 1 - 10
of 52
pro vyhledávání: '"Silberman, Joel A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lee, Sae Kyu, Agrawal, Ankur, Silberman, Joel, Ziegler, Matthew, Kang, Mingu, Venkataramani, Swagath, Cao, Nianzheng, Fleischer, Bruce, Guillorn, Michael, Cohen, Matthew, Mueller, Silvia M., Oh, Jinwook, Lutz, Martin, Jung, Jinwook, Koswatta, Siyu, Zhou, Ching, Zalani, Vidhi, Kar, Monodeep, Bonanno, James, Casatuta, Robert
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Jan2022, Vol. 57 Issue 1, p182-197, 16p
Autor:
Mitra, Souvick, Gebreselasie, Ephrem, You Li, Gauthier, Robert, Silberman, Joel, Tyberg, Christy, Sakuma, Katsuyuki, Thuy Tran-Quinn, Ramachandran, Koushik, Angyal, Matthew
Publikováno v:
2015 37th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); 2015, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2012 IEEE 21st Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging & Systems; 1/ 1/2012, p75-78, 4p
Autor:
Asano, Tory1 tasano@jp.ibm.com, Silberman, Joel2, Dhong, Sang H.3, Takahashi, Osamu4, White, Michael5, Cottier, Scott6, Nakazato, Takaaki7, Kawasumi, Atsushi7, Yoshihara, Hiroshi6
Publikováno v:
IEEE Micro. Sep/Oct2005, Vol. 25 Issue 5, p30-38. 9p.
Publikováno v:
IEEE Micro; Sep/Oct2005, Vol. 25 Issue 5, p10-18, 9p