Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Sidelnicov, A."'
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2002 91:403-406
Publikováno v:
Materials Science and Engineering: B. :403-406
An improved point contact current topography (PCCT) technique of detecting electrical microscopic non-uniformities in high-resistivity semiconductors, especially in semi-insulating (SI) GaAs, is described. Using a B-implanted diamond tip, a local res
Autor:
Lauer, K., Walter, S., Sidelnicov, A., Herms, M., Diez, S., Ludwig, Y., Turek, M., Reißenweber, S., Lawerenz, A.
26th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition; 1492-1496
The results of a round-robin experiment, which determines the electrical quality of silicon, are presented. Five participants measure the excess charge carrier lifetime
The results of a round-robin experiment, which determines the electrical quality of silicon, are presented. Five participants measure the excess charge carrier lifetime
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8e86c44d8aac87f6c81cb2498eaf0e2f
25th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition / 5th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, 6-10 September 2010, Valencia, Spain; 2344-2347
We investigate the variation of the interstitial iron content in CZ silic
We investigate the variation of the interstitial iron content in CZ silic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::41b13c74ae987e124d41aefb2b74d827
Publikováno v:
Journal of Hypertension. 28:e51
Publikováno v:
ResearcherID
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0191e900a79c74e96f4a37b2fb558010
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000283023402025&KeyUID=WOS:000283023402025
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000283023402025&KeyUID=WOS:000283023402025
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.