Zobrazeno 1 - 10
of 1 250
pro vyhledávání: '"SiC transistors"'
Autor:
Teixeira, Alice, Cougo, Bernardo, Segond, Gilles, Morais, Lenin M.F., Andrade, Marco, Tran, Duc Hoan
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Clavel, M., Poiroux, T., Mouis, M., Becerra, L., Thomassin, J.L., Zenasni, A., Lapertot, G., Rouchon, D., Lafond, D., Faynot, O.
Publikováno v:
In Solid State Electronics May 2012 71:2-6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Marroqui, David, Borrell, Jorge, Gutierrez, Roberto, Manuel Blanes, Jose, Garrigos, Ausias, Maset, Enrique
Publikováno v:
Electronics & Electrical Engineering; 2017, Vol. 23 Issue 5, p54-60, 7p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industrial Electronics. 68:2608-2616
The temperature evolution during a short-circuit (SC) fault in the dies of three different silicon carbide (SiC) 1200-V power devices is presented in this article. Transient electrothermal simulations are performed based on the reconstructed structur
Autor:
A.V. Ulyanov, R.V. Shibeko
Publikováno v:
Современные наукоемкие технологии (Modern High Technologies). :124-131
Autor:
Xie, Hai-Qing, č°˘, ćµ·ć...1 (AUTHOR), Wu, Dan, 伍, 丹1 (AUTHOR), Deng, Xiao-Qing, é‚", ĺ°Źć¸...1 (AUTHOR), Fan, Zhi-Qiang, čŚ, 志强1 (AUTHOR) zqfan@csust.edu.cn, Zhou, Wu-Xing, ĺ'¨, äş"ćź2 (AUTHOR), Xiang, Chang-Qing, ĺ', é•żéť'3 (AUTHOR), Liu, Yue-Yang, ĺ, 岳éł4 (AUTHOR)
Publikováno v:
Chinese Physics B. Nov2021, Vol. 30 Issue 11, p1-6. 6p.