Zobrazeno 1 - 10
of 76
pro vyhledávání: '"Si interposer"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3D Heterogenous Integrated Wideband Switchable Bandpass Filter Bank for Millimeter Wave Applications
Publikováno v:
Electronics; Volume 12; Issue 1; Pages: 194
This article proposes a three-dimensional heterogenous-integrated (3DHI) switchable bandpass filter bank with two independent wideband filter channels that cover 26–40 GHz and 32.5–40 GHz, respectively. An accurate wafer-level process with a high
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
W.H.A. Wien, Fred Roozeboom, Harm C. M. Knoops, H.W. van Zeijl, Wilhelmus M. M. Kessels, M. Saadaoui, R. M. C. M. van de Sanden, C. Kwakernaak, F.C. Voogt, H. T. M. Pham, Pasqualina M. Sarro
Publikováno v:
Ieee Transactions on Components Packaging and Manufacturing Technology, 1, 1728-1738
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 11, 1, 1728-1738
IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 1(11), 1728-1738. Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 11, 1, 1728-1738
IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 1(11), 1728-1738. Institute of Electrical and Electronics Engineers
One of the critical steps toward producing void-free and uniform bottom-up copper electroplating in high aspect-ratio (AR) through-silicon vias (TSVs) is the ability of the copper electrolyte to spontaneously flow through the entire depth of the via.