Zobrazeno 1 - 10
of 72
pro vyhledávání: '"Shin, Sojin"'
Autor:
Kim, Olga, Park, Eun Young, Kwon, Sun Young, Shin, Sojin, Emerson, Robert E., Shin, Yong-Hyun, DeMayo, Francesco J., Lydon, John P., Coffey, Donna M., Hawkins, Shannon M., Quilliam, Lawrence A., Cheon, Dong-Joo, Fernández, Facundo M., Nephew, Kenneth P., Karpf, Adam R., Widschwendter, Martin, Sood, Anil K., Bast, Robert C., Godwin, Andrew K., Miller, Kathy D., Cho, Chi-Heum, Kim, Jaeyeon
Publikováno v:
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2020 Dec . 117(50), 31993-32004.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/27005757
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kim, Minse, Song, Chi‐Yeon, Lee, Jin Sil, Ahn, Yu‐Rim, Choi, Jaewon, Lee, Sang Hoon, Shin, SoJin, Na, Hee Jun, Kim, Hyun‐Ouk
Publikováno v:
Advanced Healthcare Materials; Jul2024, Vol. 13 Issue 17, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
SHIN, SOJIN soshin@tiu.ac.jp
Publikováno v:
Journal of Indian & Asian Studies. Jul2022, Vol. 3 Issue 2, p1-21. 21p.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2017 79:328-335