Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Shin, Hosoon"'
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12954 Issue: 1 p129540B-129540B-6, 1165867p
Autor:
Kim, Ryoung-Han, Lafferty, Neal V., Shin, Hosoon, Ban, Yongchan, Kil, Jaebok, Hwang, Heecheol, Cho, Kyoungin, Sim, Sangmin, Lee, Bonghyun, Shin, Insub, Kim, Heeyeon, Jang, Chaeyoung
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12495 Issue: 1 p124951A-124951A-9, 1124569p
Autor:
Shin, Hosoon, Ban, Yongchan, Kil, Jaebok, Hwang, Heecheol, Cho, Kyoungin, Sim, Sangmin, Lee, Bonghyun, Shin, Insub, Kim, Heeyeon, Jang, Chaeyoung
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 4/8/2023, Vol. 12495, p124951A-124951A-9, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS); 2015, p1-5, 5p
Publikováno v:
2015 28th IEEE International System-on-Chip Conference (SOCC); 1/1/2015, p53-58, 6p
Autor:
Sturtevant, John L., Capodieci, Luigi, Ban, Yongchan, Choi, Changseok, Shin, Hosoon, Kang, Yongseok, Paik, Woo Hyun
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2014, Vol. 9053 Issue: 1 p90530P-90530P-11, 8962482p
Publikováno v:
2014 International SoC Design Conference (ISOCC); 2014, p132-133, 2p