Zobrazeno 1 - 10
of 207
pro vyhledávání: '"Shin, Dong Kil"'
Autor:
Mose, Bruno R.1 (AUTHOR), Shin, Dong-Kil2 (AUTHOR) dkshin@yu.ac.kr, Nam, Jeong-Hwan3 (AUTHOR)
Publikováno v:
Scientific Reports. 7/19/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-10. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Polymers (20734360); Oct2024, Vol. 16 Issue 20, p2907, 32p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jeong, In Jun, Shin, Dong-Kil
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability February 2021 117
Autor:
Yewale, Manesh A., Morankar, Pritam J., Kumar, Vineet, Teli., Aviraj M., Beknalkar, Sonali A., Dhas, Suprimkumar D., Shin, Dong-Kil
Publikováno v:
Micromachines; Jul2024, Vol. 15 Issue 7, p930, 15p