Zobrazeno 1 - 10
of 156
pro vyhledávání: '"Sheng, T.T."'
Autor:
Lau, W.S., Qian, P.W., Han, Taejoon, Sandler, Nathan P., Che, S.T., Ang, S.E., Tung, C.H., Sheng, T.T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(2):429-433
Autor:
Peng, C.S. *, Chen, H., Zhao, Z.Y., Li, J.H., Dai, D.Y., Huang, Q., Zhou, J.M., Zhang, Y.H., Tung, C.H., Sheng, T.T., Wang, J.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1999 201:530-533
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the 1997 6th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 1997, p92-96, 5p
Publikováno v:
Proceedings of the 1997 6th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 1997, p86-91, 6p
Publikováno v:
1980 International Electron Devices Meeting; 1980, p24-27, 4p
Publikováno v:
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design & Testing; 1996, p79-85, 7p
Autor:
Kamgar, A., Hillenius, S.J., Cong, H.-I.L., Field, R.L., Lindenberger, W.S., Celler, G.K., Trimble, L.E., Sheng, T.T.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1992, Vol. 39 Issue 3, p640-647, 8p
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; 1990, Vol. 11 Issue 11, p549-551, 3p
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.