Výsledky vyhledávání - "Sheinkman, Moisey K."

Conference

Formation of defects in CdTe doped by Vanadium.

Autor: Belyaev, Alexander E., Mischenko, L. A., Sheinkman, Moisey K.

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1996, Issue 1, p275-278, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Ultrasound treatment as a new way for defect engineering in semiconductor materials and devices

Autor: Sheinkman, Moisey K., Korsunskaya, Nadezhda E., Ostapenko, Sergey S.

Publikováno v: ResearcherID
Scopus-Elsevier

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0eee36807be3e6ffdb88cf86b9dd41a8
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0032308598&partnerID=40&md5=165d600af255ac75e7b9bc5f40be0608

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.