Zobrazeno 1 - 10
of 54
pro vyhledávání: '"Sharma, B.G."'
Autor:
Tiwari, Kanchan, Sharma, B.G., Brahme, Nameeta, Bisen, D.P., Richhariya, Tripti, Verma, Anita, Sahu, Somnath, Sinha, Akash
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 1 March 2024 171
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sharma, B.G., Handiekar, V. N.
Publikováno v:
Proceedings of the Indian History Congress, 1976 Jan 01. 37, 352-352.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/44138973
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fox, R., Hinsinger, O., Richard, E., Sabouret, E., Berger, T., Goldberg, C., Humbert, A., Imbert, G., Brun, P., Ollier, E., Maurice, C., Guillermet, M., Monget, C., Plantier, V., Bono, H., Zaleski, M., Mellier, M., Jacquemin, J.P., Flake, J., Sharma, B.G.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p81-84, 4p
Autor:
Hinsinger, O., Fox, R., Sabouret, E., Goldberg, C., Verove, C., Besling, W., Brun, P., Josse, E., Monget, C., Belmont, O., Van Hassel, J., Sharma, B.G., Jacquemin, J.P., Vannier, P., Humbert, A., Bunel, D., Gonella, R., Mastromatteo, E., Reber, D., Farcy, A.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p317-320, 4p
Autor:
Sharma, B.G.
Publikováno v:
Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena - Annual Report 1984; 1984, p411-416, 6p
Autor:
Sharma, B.G.
Publikováno v:
Proceedings of First International Conference on Conduction & Breakdown in Solid Dielectrics; 1/1/1983, p406-410, 5p