Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Sewell, J.S"'
Ohmic contact characterization of AlGaN/GaN device layers with spatially localized LEEN spectroscopy
Autor:
Jessen, G.H, White, B.D, Bradley, S.T, Smith, P.E, Brillson, L.J, Van Nostrand, J.E, Fitch, R, Via, G.D, Gillespie, J.K, Dettmer, R.W, Sewell, J.S
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2002 46(9):1427-1431
Autor:
Royter, Y., Patterson, P.R., Li, J.C., Elliott, K.R., Hussain, T., Boag-O'Brien, M.F., Duvall, J.R., Montes, M.C., Hitko, D.A., Sewell, J.S., Sokolich, M., Chow, D.H., Brewer, P.D.
Publikováno v:
2009 IEEE International Conference on Indium Phosphide & Related Materials; 2009, p105-110, 6p
Autor:
Bozada, C.A., Barlage, D.W., Barrette, J.P., Dettmer, R.W., Mack, M.P., Sewell, J.S., Via, G.D., Yang, L.W., Helms, D.R., Komiak, J.J.
Publikováno v:
GaAs IC Symposium IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium 17th Annual Technical Digest 1995; 1995, p155-158, 4p
Autor:
Liou, J.J., Jenkins, T.J., Liou, L.L., Neidhard, R., Barlage, D.W., Fitch, R., Barrette, J.P., Mack, M., Bozada, C.A., Lee, R.H.Y., Dettmer, R.W., Sewell, J.S.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1996, Vol. 43 Issue 1, p116-122, 7p
Autor:
Cerny, C.L., Via, G.D., Ebel, J.L., DeSalvo, G.C., Quach, T.K., Bozada, C.A., Dettmer, R.W., Gillespie, J.K., Jenkins, T.J., Pettiford, C.I., Sewell, J.S., Ehret, J.E., Merkel, K., Wilson, A., Lyke, J.
Publikováno v:
IEEE Aerospace & Electronic Systems; 1998, Vol. 13 Issue 3, p7-14, 8p
Autor:
Jensen, G.H., Fitch, R.C., Gillespie, J.K., Via, G.D., Moser, N.A., Yannuzzi, M.J., Crespo, A., Sewell, J.S., Dettmer, R.W., Jenkins, T.J., Davis, R.F., Yang, J., Asif Khan, M., Binari, S.C.
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Nov2003, Vol. 24 Issue 11, p677-679, 3p, 4 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.