Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"Seutter, S.M."'
Publikováno v:
In Surface Science 1999 438(1):131-141
Autor:
Sandhya, C., Ganguly, U., Singh, K.K., Singh, P.K., Olsen, C., Seutter, S.M., Hung, R., Conti, G., Ahmed, K., Krishna, N., Vasi, J., Mahapatra, S.
Publikováno v:
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2008, p406-411, 6p
Autor:
Sandhya, C., Ganguly, U., Singh, K.K., Olsen, C., Seutter, S.M., Conti, G., Ahmed, K., Krishna, N., Vasi, J., Mahapatra, S.
Publikováno v:
2008 15th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2008, p1-7, 7p
Publikováno v:
In Surface Science 20 January 2000 445(2-3):L71-L75
Publikováno v:
In Surface Science 2000 464(1):L708-L714
Publikováno v:
Surface Science; January 2000, Vol. 445 Issue: 2-3 pL71-L75, 5p
Autor:
Ishaug, B.E., Seutter, S.M., Dabiran, A.M., Cohen, P.I., Farrow, R.F.C., Weller, D., Parkin, S.S.P.
Publikováno v:
Surface Science; May 1997, Vol. 380 Issue: 1 p75-82, 8p
Autor:
Ko, C.H., Kuan, T.M., Kangzhan Zhang, Tsai, G., Seutter, S.M., Wu, C.H., Wang, T.J., Ye, C.N., Chen, H.W., Ge, C.H., Wu, K.H., Lee, W.C.
Publikováno v:
2008 Symposium on VLSI Technology; 2008, p108-109, 2p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.