Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Seshu, Vullakula Rama"'
1
Akademický článek
Impact of unpreventable induced interface trapped charges on HZO based FDSOI NCFET
Autor: Seshu, Vullakula Rama, Shaik, Rameez Raja, Pradhan, K.P.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability December 2022 139
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje