Zobrazeno 1 - 10
of 100
pro vyhledávání: '"Serenkov, I.T."'
Autor:
Kulinkin, A.B., Korovin, A.M., Wang, Y., Kuzin, D.S., Khomchenko, A.S., Boiko, M.E., Sakharov, V.I., Serenkov, I.T., Suturin, S.M., Huang, L., Sokolov, N.S.
Publikováno v:
In Optical Materials March 2024 149
Autor:
Babinov, N.A., Razdobarin, A.G., Bukreev, I.M., Kirilenko, D.A., Lyullin, Z.G., Mukhin, E.E., Sitnikova, A.A., Varshavchik, L.A., Zatylkin, P.A., Putrik, A., Klimov, N.S., Kovalenko, D.V., Zhitlukhin, A.M., Morgan, T., Brons, S., De Temmerman, G., Serenkov, I.T., Sakharov, V.I., Bulovich, S.V., Gorodetsky, A.E.
Publikováno v:
Nuclear Fusion; Dec2022, Vol. 62 Issue 12, p1-13, 13p
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 15 December 2009 404(23-24):5234-5236
Publikováno v:
In Superlattices and Microstructures 2009 45(4):177-181
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2005 492(1):146-152
Autor:
Sobolev, N.A. *, Emel’yanov, A.M., Sakharov, V.I., Serenkov, I.T., Shek, E.I., Besyul`kin, A.I., Lundin, W.V., Shmidt, N.M., Usikov, A.S., Zavarin, E.E.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 31 December 2003 340-342:1108-1112
Autor:
Sobolev, N.A. *, Emel'yanov, A.M., Shek, E.I., Sakharov, V.I., Serenkov, I.T., Nikolaev, Yu.A., Vdovin, V.I., Yugova, T.G., Makovijchuk, M.I., Parshin, E.O., Pizzini, S.
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2002 91:167-169
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Наносистемы: физика, химия, математика.
The possibilities of Medium-Energy Ion Scattering (MEIS) spectrometry combined with ion channeling for the estimation of the composition of single layer graphene oxide films and produced graphene layers deposited on the surface of standard silicon su
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::799b3d60af875d725f84f0e461d0e73d
http://cyberleninka.ru/article/n/utilizing-of-the-medium-energy-ion-scattering-spectrometry-for-the-composition-investigation-of-graphene-oxide-films-on-silicon-surface
http://cyberleninka.ru/article/n/utilizing-of-the-medium-energy-ion-scattering-spectrometry-for-the-composition-investigation-of-graphene-oxide-films-on-silicon-surface