Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Selected area XPS"'
Autor:
Sebastian Bütefisch, Jörg Radnik, Cristiana Passiu, Wolfgang E. S. Unger, Antonella Rossi, Thomas Weimann, I. Busch, Jörg M. Stockmann
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis, 52 (12)
Small-area/spot photoelectron spectroscopy (SAXPS) is a powerful tool for the investigation of small surface features like microstructures of electronic devices, sensors or other functional surfaces, and so forth. For evaluating the quality of such m
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::34a1a6c939c6b0ab19d296c975abcd11
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.