Zobrazeno 1 - 10 of 83 pro vyhledávání: '"Seifarth, O."'
1
Akademický článek
Hf- and Zr-based alkaline earth perovskite dielectrics for memory applications
Autor: Łupina, G., Seifarth, O., Kozłowski, G., Dudek, P., Dąbrowski, J., Lippert, G., Müssig, H.-J.
Publikováno v: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1842-1844
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
On the charge-density-wave mechanism of layered 2H-TaSe 2: photoemission results
Autor: Seifarth, O., Gliemann, S., Skibowski, M., Kipp, L.
Publikováno v: In Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 2004 137:675-679
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Single crystalline Pr2-xYxO3 (x=0-2) dielectrics on Si with tailored electronic and crystallographic structure.
Autor: Seifarth, O., Schubert, M. A., Giussani, A., Klenov, D. O., Schmeißer, D., Schroeder, T.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Nov2010, Vol. 108 Issue 10, p103709, 4p, 4 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Integration of strained and relaxed silicon thin films on silicon wafers via engineered oxide heterostructures: Experiment and theory.
Autor: Seifarth, O., Dietrich, B., Zaumseil, P., Giussani, A., Storck, P., Schroeder, T.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Oct2010, Vol. 108 Issue 7, p073526, 7p, 2 Diagrams, 4 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Dielectric properties of single crystalline PrO2(111)/Si(111) heterostructures: Amorphous interface and electrical instabilities.
Autor: Seifarth, O., Walczyk, Ch., Lupina, G., Dabrowski, J., Zaumseil, P., Weidner, G., Müssig, H.-J., Schroeder, T.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Nov2009, Vol. 106 Issue 10, p104105-1-104105-8, 8p, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Microscopic model for the nonlinear behavior of high-k metal-insulator-metal capacitors.
Autor: Wenger, Ch., Lupina, G., Lukosius, M., Seifarth, O., Müssig, H.-J., Pasko, S., Lohe, Ch.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; May2008, Vol. 103 Issue 10, p104103, 5p, 1 Chart, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Lattice engineering of dielectric heterostructures on Si by isomorphic oxide-on-oxide epitaxy.
Autor: Schroeder, T., Costina, I., Storck, P., Wilke, A., Seifarth, O., Giussani, A., Müssig, H.-J., Zaumseil, P.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Apr2008, Vol. 103 Issue 8, p084102-11, 11p, 1 Color Photograph, 3 Charts, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
The influence of lattice oxygen on the initial growth behavior of heteroepitaxial Ge layers on single crystalline PrO2(111)/Si(111) support systems.
Autor: Giussani, A., Seifarth, O., Rodenbach, P., Müssig, H.-J., Zaumseil, P., Weisemöller, T., Deiter, C., Wollschläger, J., Storck, P., Schroeder, T.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Apr2008, Vol. 103 Issue 8, p084110-10, 10p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Self-assembled Ge nanocrystals on high-k cubic Pr2O3(111)/Si(111) support systems.
Autor: Schroeder, T., Costina, I., Giussani, A., Weidner, G., Seifarth, O., Wenger, Ch., Zaumseil, P., Mocuta, C., Metzger, T. H., Geiger, D., Lichte, H.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/1/2007, Vol. 102 Issue 3, p034107, 10p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 3 Graphs
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje