Zobrazeno 1 - 10
of 92
pro vyhledávání: '"See, Alex"'
Autor:
See, Alex Kok Bin
This thesis describes the development of a novel high-voltage, high-speed Pulsed Electro- Acoustic (PEA) instrument for real-time measurements of space charge distribution in solid insulators subjected to DC, AC or transient voltages. Very high-rate
Externí odkaz:
http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.696976
Autor:
Zangina, Tasiu, Hassan, Jumiah, Matori, Khamirul Amin, Azis, Raba’ah Syahidah, Ahmadu, Umaru, See, Alex
Publikováno v:
In Results in Physics 2016 6:719-725
Publikováno v:
In Thermochimica Acta 10 October 2014 593:76-81
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2004 462:197-201
Publikováno v:
In Microelectronics Journal 2 January 2002 33(1-2):55-60
Autor:
Goh, Wang-Ling *, Yeo, Kiat-Seng, Lazuardi, Stephen, Peng, Wei, Leong, Kam-Chew, Chan, Lap, See, Alex
Publikováno v:
In Microelectronics Journal September 2001 32(9):725-731
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Apr2008, Vol. 103 Issue 8, p084906-6, 6p, 2 Black and White Photographs, 5 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 26:335-338
One type of yield killing defect called STI Crater is found on advanced CMOS devices during shallow trench isolation (STI) formation. The mechanism of the defect formation is discussed, and various cleaning and thermal treatment applications have bee
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6f0f80c91588df945397a7d38aed35a5
https://doi.org/10.1109/tsm.2013.2267545
https://doi.org/10.1109/tsm.2013.2267545
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.