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pro vyhledávání: '"Sebastiano Costanzo"'
Autor:
Stefano Michelis, Sebastiano Costanzo, Giulio Borghello, Henri D. Koch, Gennaro Termo, Daniel M. Fleetwood, Federico Faccio
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 68:573-580
MOS transistors in 65-nm CMOS technology exposed to ultrahigh total ionizing dose (TID) levels show clear evidence of a true dose-rate (DR) dependence. In order to assess the impact of this effect and to understand its origin, an extensive measuremen
Autor:
Maria, Anelli, Astuto, Marinella, Bella, Rita, Carmelo, Busacca, Calogero, Aldo E., Maria Antonietta Campo, Carpinteri, Giuseppe, Stellario, Chiovè, Francesco, Coco, Anna, Colombo, Consoli, ELISABETTA MARIA GRAZIA, Alessandro, Conti, Sebastiano, Costanzo, Amalia, Corso, Ettore, Crimi, Giuseppina, D'Aiello, Wanda, Deste, Vittorio Di Geronimo, Massimo Di Martino, DI MAURO, Maurizio, DI RAIMONDO, Francesco, Drago, Antonino, Giuseppe, Ettore, Fatuzzo, Pasquale Mario, Sebastiana, Ferraro, Emilia, Fisicaro, Carmelo, Galvagna, Gambera, ANGELO ANTONIO, Alessandra, Gagliano, Elena, Grasso, Filippo, Grasso, Grasso, Michele, Maria Lili Klein, Carmelo La Rosa, Roberto, Lisi, Carmen, Liuzzo, Anna Maria Longhitano, Nicosia, Alfio Salvatore, Marranzano, Marina, Mazzaglia, Claudio Giuseppe, Elisa, Mauro, Mistretta, Antonio, Maria Concetta Monea, Arturo, Montineri, Pietro, Murgia, Paola, Noto, Francesco, Oliveri, Felice Maria Grazia Pantò, Gabriella, Patanè, Pennisi, Giovanni, Rosario, Raineri, Russo, Giovanna, Giuseppe, Saglimbeni, Salamanca, Giuseppe Antonio, Puccio, Scarpinati, Vincenzo, Scuderi, Stefani, Stefania, Tamburino, Corrado, Rosanna, Termini, Zanghi', Guido Nicola
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4731::da4970cf75a0394662ef459f36a9d0fa
http://hdl.handle.net/20.500.11769/442554
http://hdl.handle.net/20.500.11769/442554