Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Sealy, CP"'
Electron microscopy techniques have great potential for dopant profiling because of their high spatial resolution in two-dimensions (2-D). Previous work has shown that contrast arises between p-, n- and i-doped material when observed in the secondary
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f41d9449005c9fdc4a228a3829afd0dc
https://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:8892e273-9007-4eb9-aae6-e35705af2373
https://ora.ox.ac.uk/objects/uuid:8892e273-9007-4eb9-aae6-e35705af2373
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.