Zobrazeno 1 - 10
of 46
pro vyhledávání: '"Schwendemann, Todd C."'
Autor:
Albers, Boris J.1, Schwendemann, Todd C.1,2, Baykara, Mehmet Z.1, Pilet, Nicolas1,3, Liebmann, Marcus1,3, Altman, Eric I.2, Schwarz, Udo D.1 udo.schwarz@yale.edu
Publikováno v:
Nature Nanotechnology. May2009, Vol. 4 Issue 5, p307-310. 4p. 1 Color Photograph, 2 Diagrams, 1 Graph.
Autor:
Frey, Jerome1,2 (AUTHOR), Schwendemann, Todd C.1,2 (AUTHOR) schwendemat1@southernct.edu
Publikováno v:
International Journal of High Speed Electronics & Systems. Sep-Dec2019, Vol. 38 Issue 3/4, pN.PAG-N.PAG. 32p.
Autor:
Mönig, Harry, Todorović, Milica, Baykara, Mehmet Z., Schwendemann, Todd C., Rodrigo, Lucía, Altman, Eric I., Pérez, Rubén, Schwarz, Udo D.
Publikováno v:
ACS Nano; 20240101, Issue: Preprints
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Baykara, Mehmet Z., Mönig, Harry, Schwendemann, Todd C., Ünverdi, Özhan, Altman, Eric I., Schwarz, Udo D.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 2/15/2016, Vol. 108 Issue 7, p071601-1-071601-5, 5p, 2 Diagrams, 2 Graphs
Autor:
Dahlberg, Kevin F., Woods, Kelly, Jenkins, Carol, Broadbridge, Christine C., Schwendemann, Todd C.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2014, Vol. 1752 Issue 1, p65-70, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gossett, Eric M., Scanley, Ellen B., Liu, Yanhui, Li, Yanglin, Liu, Ze, Sohn, Sungwoo, Schroers, Jan, Broadbridge, Christine, Schwendemann, Todd C.
Publikováno v:
International Journal of High Speed Electronics & Systems; Sep-Dec2015, Vol. 24 Issue 3/4, p-1, 9p