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Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Autor:
Schuderer, Jürgen Rudolf.
Diss., Technische Wissenschaften ETH Zürich, Nr. 15347, 2004.
Externí odkaz:
http://e-collection.ethbib.ethz.ch/show?type=diss&nr=15347
Autor:
Regel, Sabine J., Negovetic, Sonja, Röösli, Martin, Berdiñas, Veronica, Schuderer, Jürgen, Huss, Anke, Lott, Urs, Kuster, Niels, Achermann, Peter
Publikováno v:
Environmental Health Perspectives, 2006 Aug 01. 114(8), 1270-1275.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/3655958
Autor:
Benfante, Roberta, Antonini, Ruth Adele, Kuster, Niels, Schuderer, Juergen, Maercker, Christian, Adlkofer, Franz, Clementi, Francesco, Fornasari, Diego
Publikováno v:
In Toxicology in Vitro 2008 22(6):1489-1495
Publikováno v:
In Mut.Res.-Genetic Toxicology and Environmental Mutagenesis 2004 557(1):63-74
Autor:
Czyż, Jarosław, Guan, Kaomei, Zeng, Qinghua, Nikolova, Teodora, Meister, Armin, Schönborn, Frank, Schuderer, Jürgen, Kuster, Niels, Wobus, Anna M.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3647::0e43fb6dd221bb610b59fb08ec4fc55c
https://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/75848
https://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/75848
Autor:
Schuderer, Jürgen1 jschuder@itis.ethz.ch, Spät, Denis1, Samaras, Theodoros2, Oesch, Walter1, Kuster, Niels1
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques. Aug2004 part 2 of 2, Vol. 52 Issue 8, p2067-2075. 9p.
Autor:
Schuderer, Jürgen1 jschuder@itis.ethz.ch, Samaras, Theodoros2, Oesch, Walter1, Spät, Denis1, Kuster, Niels1
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques. Aug2004 part 2 of 2, Vol. 52 Issue 8, p2057-2066. 10p.