Výsledky vyhledávání - "Schuchmann, Shari"

Conference

Monitoring optical properties and thickness of PECVD SiON antireflective layer by spectroscopic ellipsometry.

Autor: Ygartua, Carlos L., Konjuh, Kathy, Schuchmann, Shari, MacWilliams, Kenneth P., Mordo, David

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov1997, Issue 1, p602-606, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Europe is ready for turnaround.

Autor: Schuchmann, Shari

Publikováno v: New Media Age. 6/20/2002, p9. 1/2p.

Zobrazit plný text záznamu