Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"Schruefer, Klaus"'
Autor:
Gossner, Harald, Russ, Christian, Siegelin, Frank, Schneider, Jens, Schruefer, Klaus, Schulz, Thomas, Duvvury, Charvaka, Cleavelin, C. Rinn, Xiong, Weize
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
Zaman, Rownak J., Xiong, Weize, Quintanilla, Rudy, Schulz, Thomas, Cleavelin, C. Rinn, Wise, Rick, Pas, Mike, Patruno, Paul, Schruefer, Klaus, Banerjee, Sanjay K.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2005, Vol. 872 Issue 1, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hook, Terence B., Adler, Eric, Guarin, Fernando, Lukaitis, Joseph, Rovedo, Nivo, Schruefer, Klaus
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Jul2001, Vol. 48 Issue 7, p1346, 8p, 1 Chart, 10 Graphs
Autor:
Schrüfer, Klaus
Publikováno v:
Jahrbücher für Nationalökonomie und Statistik / Journal of Economics and Statistics, 1991 Nov 01. 208(6), 670-672.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/23811558
Autor:
Lauerhaas, Jeffrey M., Cleavelin, Rinn, Xiong, Wei Ze, Mochizuki, Koki, Sherman, Kara, Lee, Hu Cheng, Clappin, Brian, Schulz, Thomas, Schruefer, Klaus
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; November 2007, Vol. 134 Issue: 1 p213-216, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kyoungsub Shin, Weize Xiong, Chung Yeung Cho, Cleavelin, C. Rinn, Schulz, Thomas, Schruefer, Klaus, Patruno, Paul, Smith, Lee, Tsu-Jae King Liu
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Aug2006, Vol. 27 Issue 8, p671-673, 3p, 2 Charts, 3 Graphs
Autor:
Colinge, Jean-Pierre, Floyd, Liam, Quinn, Aidan J., Redmond, Gareth, Alderman, John C., Xiong, W., Cleavelin, C. Rinn, Schulz, T., Schruefer, Klaus, Knoblinger, Gerhard, Patruno, Paul
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Mar2006, Vol. 27 Issue 3, p172-174, 3p, 4 Graphs
Autor:
Colinge, Jean-Pierre, Quinn, Aidan J., Floyd, Liam, Redmond, Gareth, Alderman, John C., Weize Xiong, Cleavelin, C. Rinn, Schulz, Thomas, Schruefer, Klaus, Knoblinger, Gerhard, Patruno, Paul
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Feb2006, Vol. 27 Issue 2, p120-122, 3p, 1 Diagram, 4 Graphs