Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Schrey, Olaf M."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Beer, Maik, Schrey, Olaf M., Haase, Jan F., Ruskowski, Jennifer, Brockherde, Werner, Hostickaa, Bedrich J., Kokozinskia, Rainer
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 11/12/2017, Vol. 10540, p1-8, 8p
Autor:
Elkhalili, Omar, Schrey, Olaf M., Mengel, Peter, Petermann, Martin, Brockherde, Werner, Hosticka, Bedrich
A 4 x 64 pixel 3-D CMOS imager based on time-of-flight (TOF) has been developed and successfully tested. The measurement range is up to 8 m with resolution of 1 cm. The scene depth is determined by measurement of the travel time of reflected laser pu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::96440f79eab20fc300e42d72bfc06004
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206332
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206332
Autor:
Razeghi, Manijeh, Brown, Gail J., Lewis, Jay S., Leo, Giuseppe, Beer, Maik, Schrey, Olaf M., Haase, Jan F., Ruskowski, Jennifer, Brockherde, Werner, Hosticka, Bedrich J., Kokozinski, Rainer
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; January 2018, Vol. 10540 Issue: 1 p105402G-105402G-8, 948627p
Publikováno v:
ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705); 2003, pxxi-xxvi, 6p