Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Schrey, Olaf"'
Publikováno v:
In Solid State Electronics January 2023 199
Autor:
Schrey, Olaf
Nearly 80% of the worldwide semiconductor market volume is covered by standard-CMOS-technology products. Due to the increasing demand on highly flexible, reliable and robust image sensors from many different industry parts, CMOS-technology has become
Autor:
Piechaczek, Denis Szymon1 (AUTHOR) denis.piechaczek@ims.fraunhofer.de, Schrey, Olaf1 (AUTHOR), Ligges, Manuel1 (AUTHOR), Hosticka, Bedrich1,2 (AUTHOR), Kokozinski, Rainer1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Oct2022, Vol. 22 Issue 19, p7520-7520. 11p.
Autor:
Schrey, Olaf, Brockherde, Werner, Nitta, Christian, Bechen, Benjamin, Bodenstorfer, Ernst, Brodersen, Jörg, Mayer, Konrad J.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2016 125:220-226
Autor:
Buschek, Johannes, Eckardt, Andreas, Manthey, Kristian, Sengebusch, Karsten, Schrey, Olaf, Piechaczek, Denis, Kahmen, Gerhard
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 11/28/2023, Vol. 12729, p1272913-1272913, 1p
Publikováno v:
In Signal Processing 2001 81(3):453-463
Autor:
Haase, Jan F., Beer, Maik, Schrey, Olaf, Ruskowski, Jennifer, Brockherde, Werner, Vogt, Holger
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 12/20/2018, Vol. 10926, p109260W-1-109260W-7, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Beer, Maik, Schrey, Olaf M., Haase, Jan F., Ruskowski, Jennifer, Brockherde, Werner, Hostickaa, Bedrich J., Kokozinskia, Rainer
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 11/12/2017, Vol. 10540, p1-8, 8p