Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Schraff, M."'
Autor:
Signorello, G., Schraff, M., Zellekens, P., Drechsler, U., Buerge, M., Steinauer, H. R., Heller, R., Tschudy, M., Riel, H.
We present an automatic measurement platform that enables the characterization of nanodevices by electrical transport and optical spectroscopy as a function of uniaxial stress. We provide insights into and detailed descriptions of the mechanical devi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1704.01394
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.