Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Schmadel DC"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hart JD; Institute for Research in Electronics and Applied Physics, University of Maryland, College Park, Maryland 20742, USA., Schmadel DC; Institute for Research in Electronics and Applied Physics, University of Maryland, College Park, Maryland 20742, USA., Murphy TE; Institute for Research in Electronics and Applied Physics, University of Maryland, College Park, Maryland 20742, USA., Roy R; Institute for Research in Electronics and Applied Physics, University of Maryland, College Park, Maryland 20742, USA.
Publikováno v:
Chaos (Woodbury, N.Y.) [Chaos] 2017 Dec; Vol. 27 (12), pp. 121103.
Autor:
Jenkins GS; Department of Physics, Center for Nanophysics and Advanced Materials, University of Maryland, College Park, Maryland 20742, USA., Schmadel DC, Drew HD
Publikováno v:
The Review of scientific instruments [Rev Sci Instrum] 2010 Aug; Vol. 81 (8), pp. 083903.
Autor:
Corrigan TD; Department of Physics, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA. tdcorrigan@lps.umd.edu, Kolb PW, Sushkov AB, Drew HD, Schmadel DC, Phaneuf RJ
Publikováno v:
Optics express [Opt Express] 2008 Nov 24; Vol. 16 (24), pp. 19850-64.