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pro vyhledávání: '"Scharoba, Stefan"'
Autor:
Bielefeldt, Jens, Basener, Kai-Uwe, Khan, Siddique Reza, Massah, Mozhdeh, Wiesbrock, Hans-Werner, Scharoba, Stefan, H��bner, Michael
W��hrend der Durchfu��hrung von Funktions-, Stress- oder Laufzeittests eingebetteter Systeme fallen gro��e Mengen von Testdaten an. Die Testl��ufe sind in der Regel, wenn auch nicht umfassend, von Testern und/oder Kunden ausgewertet w
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4ce70f42b3bcac1a5ad322c77242d7e0
Autor:
Scholzel, Mario, Koal, Tobias, Muller, Sebastian, Scharoba, Stefan, Roder, Stephanie, Vierhaus, Heinrich T.
Publikováno v:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS); 2016, p33-38, 6p
Publikováno v:
2016 Euromicro Conference on Digital System Design (DSD); 2016, p714-717, 4p
Publikováno v:
2015 IEEE 18th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems; 2015, p99-102, 4p
Publikováno v:
2014 14th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC); 2014, p73-76, 4p
Publikováno v:
2016 Euromicro Conference on Digital System Design (DSD); 2016, p727-731, 5p
Publikováno v:
2015 IEEE 18th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems; 2015, p305-307, 3p