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Ip2go: An Interior Point Source Code Generator for Solving Linear-Quadratic Optimal Control Problems
Publikováno v:
In IFAC PapersOnLine July 2017 50(1):10632-10637
Autor:
Nirschl, Th., Henzler, St., Fischer, J., Fulde, M., Bargagli-Stoffi, A., Sterkel, M., Sedlmeir, J., Weber, C., Heinrich, R., Schaper, U., Einfeld, J., Neubert, R., Feldmann, U., Stahrenberg, K., Ruderer, E., Georgakos, G., Huber, A., Kakoschke, R., Hansch, W., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2006 50(1):44-51
Autor:
Nirschl, Th., Ostermayr, M., Olbrich, A., Vietzke, D., Omer, M., Linnenbank, C., Schaper, U., Pottgiesser, Y., Pottgiesser, J., Johansson, M., Simon, U., Joens, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1383-1387
Publikováno v:
Zeitschrift für Pflanzenkrankheiten und Pflanzenschutz / Journal of Plant Diseases and Protection, 1984 Oct 01. 91(5), 525-532.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/43382859
Autor:
Schaper, U. (Ulrich)
Der Klimawandel ist eine der größten Herausforderungen der menschlichen Gesellschaft. Die Naturwissenschaften haben die damit verbundenen Veränderungsprozesse hinlänglich untersucht und auf die damit verbundenen Risiken hingewiesen. Die Medien sp
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______517::b7255d7eeaeece01c0b04e8bdb1caa0e
https://repositorium.uni-muenster.de/transfer/miami/4cc12769-ddfb-4986-bc71-098d9b31ebcb
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Akademický článek
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Publikováno v:
125. Kongress der Deutschen Gesellschaft für Chirurgie; 20080422-20080425; Berlin; DOC08dgch9489 /20080416/
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1175::db92c5b3645127886f9a9659185e7e70
http://www.egms.de/en/meetings/dgch2008/08dgch546.shtml
http://www.egms.de/en/meetings/dgch2008/08dgch546.shtml
Publikováno v:
2009 American Control Conference; 2009, p1207-1212, 6p
Publikováno v:
2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2007, p78-82, 5p
Publikováno v:
Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005 (ICMTS 2005); 2005, p155-158, 4p