Zobrazeno 1 - 10
of 236
pro vyhledávání: '"Schaekers, M"'
Autor:
Antony Premkumar, P., Carbonell, L., Schaekers, M., Opsomer, K., Adelmann, C., Richard, O., Bender, H., Franquet, A., Meersschaut, J., Wen, L., Zsolt, T., Van Elshocht, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 May 2014 120:246-250
Autor:
Kittl, J.A., Opsomer, K., Popovici, M., Menou, N., Kaczer, B., Wang, X.P., Adelmann, C., Pawlak, M.A., Tomida, K., Rothschild, A., Govoreanu, B., Degraeve, R., Schaekers, M., Zahid, M., Delabie, A., Meersschaut, J., Polspoel, W., Clima, S., Pourtois, G., Knaepen, W., Detavernier, C., Afanas’ev, V.V., Blomberg, T., Pierreux, D., Swerts, J., Fischer, P., Maes, J.W., Manger, D., Vandervorst, W., Conard, T., Franquet, A., Favia, P., Bender, H., Brijs, B., Van Elshocht, S., Jurczak, M., Van Houdt, J., Wouters, D.J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1789-1795
Autor:
Everaert, J-L., Shi, X., Rothschild, A., Schaekers, M., Rosseel, E., Pavelka, T., Don, E., Vanhaelemeersch, S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2251-2254
Autor:
Trojman, L., Ragnarsson, L.-Å., Pantisano, L., Lujan, G.S., Houssa, M., Schram, T., Cubaynes, F., Schaekers, M., Van Ammel, A., Groeseneken, G., De Gendt, S., Heyns, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 17 June 2005 80:86-89
Autor:
Sleeckx, E., Schaekers, M., Shi, X., Kunnen, E., Degroote, B., Jurczak, M., de Potter de ten Broeck, M., Augendre, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(5):865-868
Autor:
Travaly, Y ∗, Eyckens, B, Carbonel, L, Rothschild, A, Le, Q.T, Brongersma, S.H, Ciofi, I, Struyf, H, Furukawa, Y, Stucchi, M, Schaekers, M, Bender, H, Rosseel, E, Vanhaelemeersch, S, Maex, K, Gaillard, F, Van Autryve, L, Rabinzohn, P
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):367-374
Autor:
Das, A ∗, Kokubo, T, Furukawa, Y, Struyf, H, Vos, I, Sijmus, B, Iacopi, F, Van. Aelst, J, Le, Q.T, Carbonell, L, Brongersma, S, Maenhoudt, M, Tokei, Z, Vervoort, I, Sleeckx, E, Stucchi, M, Schaekers, M, Boullart, W, Rosseel, E, Van Hove, M, Vanhaelemeersch, S, Shiota, A, Maex, K
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):25-33
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(12):1933-1938
Autor:
Martens, K., Radu, I. P., Mertens, S., Shi, X., Nyns, L., Cosemans, S., Favia, P., Bender, H., Conard, T., Schaekers, M., De Gendt, S., Afanas'ev, V., Kittl, J. A., Heyns, M., Jurczak, M.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 12/15/2012, Vol. 112 Issue 12, p124501, 8p