Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Scattering S-parameters"'
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 25, Iss 3, Pp 490-499 (2016)
In this work, an accurate and reliable S- and Noise (N) - parameter black-box models for a microwave transistor are constructed based on the sparse regression using the Support Vector Regression Machine (SVRM) as a nonlinear extrapolator trained by t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4ef4610698e644c3888644a63f63e02a
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 25, Iss 3, Pp 490-499 (2016)
Radioengineering. 2016 vol. 25, č. 3, s. 490-499. ISSN 1210-2512
Radioengineering. 2016 vol. 25, č. 3, s. 490-499. ISSN 1210-2512
In this work, an accurate and reliable S- and Noise (N) - parameter black-box models for a microwave transistor are constructed based on the sparse regression using the Support Vector Regression Machine (SVRM) as a nonlinear extrapolator trained by t
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.