Caractérisation et analyse des effets de pièges électriques sur la fiabilité de HEMTS AlGaN/GaN

Autor: Berthet, F., Guhel, Y., Galous, H., Boudart, B., Trolet, J.L., Piccione, M., Sbrugnera, V., Grimbert, B., Gaquière, Christophe

Publikováno v: Actes des 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, France. pp.4C3, 1-4
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. pp.4C3, 1-4

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3b106000cf2799e1d03cb758746f3b3c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603136

Impact des pertes diélectriques de matériaux à très faible permittivité sur les performances des interconnexions de circuits intégrés

Autor: Gallitre, M., Blampey, B., Lacrevaz, T., Farcy, A., Bermond, C., Fléchet, B., Sbrugnera, V., Vo, T.T., Arnal, V., Torres, J.

National audience

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e2779fd2d0fd14f14f1e240353c68fda
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398597

Ferroelectric properties of Pb(Zr,Ti)O3 thin films until 40 GHz.

Autor: Defaÿ, E., Lacrevaz, T., Vo, T. T., Sbrugnera, V., Bermond, C., Aïd, M., Fléchet, B.

Publikováno v: Applied Physics Letters; 2/2/2009, Vol. 94 Issue 5, pN.PAG, 3p, 3 Graphs

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Impact of low gamma radiation dose on electrical trap related effects in AlGaN/GaN HEMTs.

Autor: Berthet, F., Guhel, Y., Boudart, B., Gualous, H., Trolet, J.L., Piccione, M., Gaquière, C.

Publikováno v: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology); 8/16/2012, Vol. 48 Issue 17, p1078-1079, 2p, 3 Graphs