Výsledky vyhledávání - "Sayil, Selahattin"

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Sayil, Selahattin"
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 75 pro vyhledávání: '"Sayil, Selahattin"'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Elektronická kniha

Contactless VLSI measurement and testing techniques / Selahattin Sayil. [electronic resource]

Autor: Sayil, Selahattin, author

Externí odkaz: Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Elektronická kniha

Soft error mechanisms, modeling and mitigation / Selahattin Sayil. [electronic resource]

Autor: Sayil, Selahattin, author

Externí odkaz: Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.

Vybrat výsledek číslo 3 3

Conference

Achieving Active Learning through Collaborative Online Lab Experiences.

Autor: Yoo, Julia¹, sayil, selahattin¹

Publikováno v: Proceedings of the ASEE Annual Conference & Exposition. 2023, p1-20. 20p.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Modeling single event crosstalk speedup in nanometer technologies

Autor: Sayil, Selahattin, Yuan, Li

Publikováno v: In Microelectronics Journal May 2015 46(5):343-350

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Single Event crosstalk shielding for CMOS logic

Autor: Sayil, Selahattin, Akkur, Abhishek B., Gaspard, Nelson, III

Publikováno v: In Microelectronics Journal June 2009 40(6):1000-1006

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 8 8

Akademický článek

Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits.

Autor: Sayil, Selahattin

Publikováno v: Synthesis Lectures on Digital Circuits & Systems; 2022, piv-134, 137p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Akademický článek

A survey of circuit-level soft error mitigation methodologies.

Autor: Sayil, Selahattin

Publikováno v: Analog Integrated Circuits & Signal Processing; Apr2019, Vol. 99 Issue 1, p63-70, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Accurate Prediction of Crosstalk for RC Interconnects.

Autor: SAYIL, Selahattin¹ sayil@ee.lamar.edu, RUDRAPATI, Merlyn¹

Publikováno v: Turkish Journal of Electrical Engineering & Computer Sciences. 2009, Vol. 17 Issue 1, p55-67. 13p. 7 Diagrams, 2 Charts, 1 Graph.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
Další »
[8]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

53 Akademické články
13 Knihy
6 Konferenční materiály
4 Elektronické knihy
2 Electronic Resources

15 crosstalk
13 single event effects
12 integrated circuits
10 complementary metal oxide semiconductors
10 single event crosstalk
9 soft errors
8 coupling noise
7 electronics
7 integrated circuit interconnections
7 single event transient
6 crosstalk noise
6 delay
6 electric circuits
6 electric transients
6 nanotechnology
6 single event transients
5 interconnect
5 logic circuits
5 noise
5 vlsi circuits
4 circuits
4 combinational circuits
4 deep-submicron cmos
4 design
4 hardening
4 low power
4 radiation hardening
4 transient analysis
3 accurate
3 combinational logic
3 couplings
3 electric noise
3 electric power consumption
3 electronic circuits
3 electronic equipment
3 error analysis in mathematics
3 information technology
3 integrated circuit modeling
3 integrated circuit testing
3 interconnects
3 logic
3 low power electronics
3 low voltage integrated circuits
3 mathematical models
3 metal oxide semiconductors
3 methodology
3 mos devices
3 nanoelectronics
3 nanostructured materials
3 noise measurement

19 springer nature
17 ieee
10 springer
10 taylor & francis ltd
4 ieee-inst electrical electronics engineers inc
2 asee
2 elsevier b.v.
2 elsevier ltd
2 elsevier sci ltd
2 gale, cengage learning
2 scientific & technical research council of turkey
1 pamukkale university
1 springer berlin heidelberg
1 tubitak scientific & technical research council turkey

11 soft error mechanisms, modeling & mitigation
10 international journal of electronics
9 analog integrated circuits and signal processing
8 ieee transactions on nuclear science
7 analog integrated circuits & signal processing
6 microelectronics journal
3 ieee potentials
3 ieee transactions on instrumentation & measurement
2 ieee design & test
2 proceedings of the 2002 international joint conference on neural networks. ijcnn'02 (cat. no.02ch37290)
2 proceedings of the asee annual conference & exposition
2 turkish journal of electrical engineering & computer sciences
1 2011 7th international conference on electrical & electronics engineering (eleco)
1 2015 2nd international conference on electrical information & communication technologies (eict)
1 ieee design & test of computers
1 pamukkale university journal of engineering sciences
1 synthesis lectures on digital circuits & systems
1 turkish journal of electrical engineering and computer sciences

36 Complementary Index
18 Science Citation Index Expanded
9 Academic Search Ultimate
5 Business Source Ultimate
2 ScienceDirect
2 eBook Index
2 Vybrané kolekce e-knih
1 OpenAIRE

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......