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pro vyhledávání: '"Saurer, Markus"'
Publikováno v:
In Photoacoustics December 2024 40
Publikováno v:
In Ultrasonics April 2024 139
Autor:
Saurer, Markus Sebastian
Das Erkennen von Fehlern in Halbleiterbauelementen ist von entscheidender Bedeutung, damit diese den hohen mechanischen und elektrischen Belastungen standhalten können. Eine gängige Methode zur Qualitätssicherung ist die Laserultraschallprüfung.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3007::0bda70b2cfb2158912115315108b862d
Publikováno v:
Schweizer Monat; mai2017, Issue 1046, p10-11, 2p