Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Sartoni, Sandro"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cantoro, Riccardo, Garau, Francesco, Girard, Patrick, Kolahimahmoudi, Nima, Sartoni, Sandro, Reorda, Matteo Sonza, Virazel, Arnaud
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
In-field test of integrated circuits using Self-Test Libraries (STLs) is a widely used technique specifically suited to guarantee the processor’s correct behavior during the operative lifetime, as mandated by functional safety standards such as ISO
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c74bbe9c6ae2211e3201fbc7b9994f30
https://hdl.handle.net/2117/372132
https://hdl.handle.net/2117/372132
Autor:
Sartoni, Sandro
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
New semiconductor technologies for advanced applications are more prone to defects and imperfections related, among many different causes, to the manufacturing process, aging and cross-talks. These phenomena negatively affect the circuit’s timing a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::9b2cc0392ffb7a2ceb1d04a0eccb02e7
http://hdl.handle.net/2117/369979
http://hdl.handle.net/2117/369979